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无损检测 试题


1. 原子序数 Z 等于原子核中的质子数量。 2.原子序数相同而原子量不同的元素,我们称它为同位素。

( ○ ) ( ○ )

3.放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时 间。 ( × )

4.将元素放在核反应堆中受过最中子轰击,从而变成人造放射性同位素, 这一过程称为 “激活” 。 ( ○ )

5.与 Ir192 相比,Se75 放射性同位素的半衰期更短,因此其衰变常数λ 也 更小一些。 ( × )

6. 射线能量越高, 传播速度越快, 例如γ 射线比 X 射线传播快。 ( × ) 7. 当 X 射线经过 2 个半价层后, 其能量仅仅剩下最初的 1/4。 8. X 射线的波长与管电压有关。 ( × ) ( ○ )

9.一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的 X 射线机来做相同的工作,这 种关系叫做同位素的当量能。 10. 同能量的γ 射线和 X 射线具有完全相同的性质。 ( ○ ) ( ○ )

11.X 射线的强度不仅取决取 X 射线机的管电流而且还取决于 X 射线机的 电压。 ( ○ )

12.随着入射光子能量的增大,光电吸收系数迅速减少,康普顿衰减系数 逐渐增大。 ( × )

13. 当射线能量在 1.02MeV 至 10MeV 区间, 与物质相互作用的主要形式是 电子对效应。 14.当射射线穿过三个半价层后,其强度仅剩下最初的 1/8。 ( × ) ( ○ )

15. 放射性同位素的当量能总是高于其平均能。

( ○ )

16.高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出 X 射线,这一过程称作韧致辐 射。 17. 连续 X 射线的能量与管电压有关, 与管电流无关。 ( × ) ( ○ )

18. 标识 X 射线的能量与管电压、 管电流均无关, 仅取决于靶材料。 ( ○ ) 19.在管电压、管电流不变的前提下,将 X 射线管的靶材料由钼改为钨, 所发生的射线强度会增大。 ( × )

20.在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱 X 射线,标识谱 X 射 线不起什么作用。 21. X 光管的有效焦点总是小于实际焦点。 22. X 射线中电子的速度越小, 则所发生的射线能量也就越小。 ( ○ ) ( ○ ) ( ○ )

23.全波整流 X 射线机所产生射线的平均能比半波整流 X 射线机所产生射 线的平均能高。 ( ○ )

24.能量较低的射线较更容易被胶片吸收,引起感光,因此,射线透照时 防止散射线十分重要。 ( ○ )

25.用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。 ( × ) 26. 胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。 ( ○ )

27.在常用的 100KV-400KV X 射线能量范围内,铅箔增感屏的增感系数随 其厚度的增大而减小。 ( ○ )

28. 对 X 射线机进行 “训练” 的目的是为了排出绝缘油中的气泡。 ( × )

29.对于某一同位素放射源,其活度越大,则所发出的射线强度也越大。 ( ○ ) 30.相同标称千伏值和毫安值的 X 射线机所产生的射线强度和能量必定相 同。 31. 所谓 “管电流” 就是流过 X 射线管灯丝的电流。 ( × ) ( × )

32.从实际应用的角度来说,射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产 生影响。 ( ○ )

33.与一般胶片不同,X 射线胶片双面涂布感光乳剂层,其目的是为了增 加感光速度和黑度。 34. 透照不锈钢焊缝, 可以使用碳素钢丝象质计。 35. 胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。 ( ○ ) ( ○ ) ( × )

36. 影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。 ( × ) 37.象质计灵敏度 1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度 1.5%的缺陷均可被检 出。 38. 使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。 ( × ) ( ○ )

39.一般来说,对厚度差较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的 是降低对比度, 增大宽容度。 40. 增大曝光量可提高主因对比度。 ( ○ ) ( × )

41. 用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。 ( × ) 42. 胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。 ( ○ )

43.对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。

( ○ ) 44. 显影不足或过度, 会影响底片对比度, 但不会影响颗粒度。 ( × )

45.如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影像。 ( ○ ) 46.透照有余高的焊缝时,所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部 位的母材部位得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。 隙 47. 底片黑度只影响对比度, 不影响清晰度。 48. 底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。 ( ○ ) ( ○ ) ( ○ )

49. 选择较小的射源尺寸 dr, 或者增大焦距值 F, 都可以使照相 Ug 值减小。 ( ○ ) 50.欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率,采用源在外的透照方式比源在 内的透照方式好。 ( ○ )

51.环焊缝的各种透照方式中,以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。 ( ○ ) 52.无论采用哪一种透照方式,一次透照长度都随着集中的增大而增大。 ( × ) 53.已知铜的等效系数ψ 铜=1.5,则透照同样厚度的钢和铜时,后者的管电 压应为前者的 1.5 倍。 54.源在内透照时,搭接标记必须放在射源侧。 ( × ) ( × )

55.背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放 置一个铅字 B 来验证背散射线是否存在。 ( × )

56. 不论采用何种透照布置, 为防止漏检, 搭接标记均应放在射源侧。 ( × ) 57.采用平靶周向 X 射线机对环缝作内透中心法周向曝光时,有利于检出 横向裂纹, 但不利于检出纵向裂纹。 ( ○ )

58.采用源在外单壁透照方式,如 K 值不变,则焦距越大,一次透照长度 L3 就越大。 ( ○ )

59.采用双壁单影法透照时,如保持 K 值不变,则焦距越大,一次透照长 度 L3 就越小。 ( ○ )

60.对某一曝光曲线,应使用同一类型的胶片,但可更换不同的 X 射线机。 ( × ) 61. 使用γ 射线曝光曲线时, 首先应知道射线源在给定时间的活度。 ( ○ ) 62. 增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。 63. 在常规射线照相检验中, 散射线是无法避免的。 ( ○ ) ( ○ )

64.纵焊缝双壁单影照相,搭接标记应放胶片侧,底片的有效评定长度就 是两搭接标记之间的长。 ( × )

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